Statistická analýza výroby pístků
Ing. Václav Chmelík, CSc.
Procesní přístup -
zvládnutí všech procesů
- znát proces jako sled činností
- rozhodnout, které činnosti jsou důležité
- sběr dat
- zpracování a vyhodnocení dat
- rozhodnutí
Zásadním prvkem je spolehlivost dat
Pro zjištění, zda je pro měření použito vhodné měřidlo a zda data nejsou ovlivněna operátory se používají:
- koeficienty způsobilosti měřidla cg cgk
- metoda R + R
Technické předpisy součásti
průměr: (31,862±0,005) mm
obvod.házení: (0,005÷0,030) mm
kruhovitost: 0,01mm
podskupiny 1
Pe
rce
nt
31,87531,87031,86531,86031,855
99,9
99
95
90
80
7060504030
20
10
5
1
0,1
Mean 31,86
StDev 0,002545
N 64
AD 1,313
P-Value <0,005
Probability Plot of podskupiny 1Normal - 95% CI
Měření průměru TESA 0,001
31,86931,86731,86531,86331,86131,85931,857
LSL USL
LSL 31,857
Target *USL 31,867Sample Mean 31,8635
Sample N 64StDev (Within) 0,00264085StDev (Ov erall) 0,00255476
Process Data
Lower CL 0,54Upper CL 0,77PPL 0,84
PPU 0,46Ppk 0,46Lower CL 0,35
Upper CL 0,58Cpm *Lower CL *
Cp 0,63
Lower CL 0,50Upper CL 0,76CPL 0,82
CPU 0,45Cpk 0,45Lower CL 0,32
Upper CL 0,57
Pp 0,65
Ov erall Capability
Potential (Within) Capability
PPM < LSL 0,00
PPM > USL 109375,00PPM Total 109375,00
Observ ed Perf ormancePPM < LSL 7152,74
PPM > USL 90584,12PPM Total 97736,86
Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 5670,06
PPM > USL 83451,38PPM Total 89121,44
Exp. Ov erall Perf ormance
WithinOverall
Process Capability of podskupiny 1(using 95,0% confidence)
N podskupiny 1
Pe
rce
nt
31,867531,865031,862531,860031,857531,8550
99,9
99
95
90
80706050403020
10
5
1
0,1
Mean 31,86StDev 0,001600N 64AD 0,395P-Value 0,362
Probability Plot of N podskupiny 1Normal - 95% CI
Měření průměru Air 0,0001
LSL USL
LSL 31,857
Target *USL 31,867Sample Mean 31,8616
Sample N 64StDev (Within) 0,0015238StDev (Ov erall) 0,00160596
Process Data
Lower CL 0,86Upper CL 1,22PPL 0,95
PPU 1,13Ppk 0,95Lower CL 0,76
Upper CL 1,13Cpm *Lower CL *
Cp 1,09
Lower CL 0,86Upper CL 1,32CPL 1,00
CPU 1,19Cpk 1,00Lower CL 0,77
Upper CL 1,23
Pp 1,04
Ov erall Capability
Potential (Within) Capability
PPM < LSL 0,00
PPM > USL 0,00PPM Total 0,00
Observ ed Perf ormancePPM < LSL 1339,45
PPM > USL 185,30PPM Total 1524,75
Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 2194,51
PPM > USL 365,03PPM Total 2559,54
Exp. Ov erall Perf ormance
WithinOverall
Process Capability of N podskupiny 1(using 95,0% confidence)
Sample
Sa
mp
le M
ean
15131197531
31,8645
31,8630
31,8615
31,8600
__X=31,861575
UCL=31,863921
LCL=31,859229
Sample
Sam
ple
Ra
ng
e
15131197531
0,008
0,006
0,004
0,002
0,000
_R=0,003221
UCL=0,007347
LCL=0
Xbar-R Chart of N podskupiny 1
podskupiny 3
Pe
rce
nt
31,98131,98031,97931,97831,97731,97631,97531,97431,973
99,9
99
95
90
80
7060504030
20
10
5
1
0,1
Mean 31,98
StDev 0,001006
N 64
AD 3,319
P-Value <0,005
Probability Plot of podskupiny 3Normal - 95% CI
Měření průměrů TESA 0,001 povlak soustružený
podskupiny 3
Fre
qu
en
cy
31,98231,98031,97831,97631,974
25
20
15
10
5
0
31,974 31,982Mean 31,98
StDev 0,001006
N 64
Histogram of podskupiny 3Normal
LSL T USL
31,98231,98031,97831,97631,974
LSL USL
LSL 31,974
Target *USL 31,982Sample Mean 31,9769
Sample N 64StDev (Within) 0,000849927StDev (Ov erall) 0,00100993
Process Data
Lower CL 1,09Upper CL 1,55PPL 0,97
PPU 1,67Ppk 0,97Lower CL 0,78
Upper CL 1,16Cpm *Lower CL *
Cp 1,57
Lower CL 1,24Upper CL 1,90CPL 1,15
CPU 1,99Cpk 1,15Lower CL 0,90
Upper CL 1,41
Pp 1,32
Ov erall Capability
Potential (Within) Capability
PPM < LSL 0,00
PPM > USL 0,00PPM Total 0,00
Observ ed Perf ormancePPM < LSL 273,95
PPM > USL 0,00PPM Total 273,95
Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 1815,23
PPM > USL 0,27PPM Total 1815,49
Exp. Ov erall Perf ormance
WithinOverall
Process Capability of podskupiny 3(using 95,0% confidence)
N podskupiny 3
Pe
rce
nt
31,98631,98531,98431,98331,98231,98131,98031,97931,97831,977
99,9
99
95
90
80
706050403020
10
5
1
0,1
Mean 31,98
StDev 0,001005
N 64
AD 0,420
P-Value 0,316
Probability Plot of N podskupiny 3Normal - 95% CI
Měření průměru Air 0,0001 povlak soustružený
LSL USL
LSL 31,974
Target *USL 31,982Sample Mean 31,9816
Sample N 64StDev (Within) 0,000940991StDev (Ov erall) 0,00100873
Process Data
Lower CL 1,09Upper CL 1,55PPL 2,50
PPU 0,14Ppk 0,14Lower CL 0,06
Upper CL 0,23Cpm *Lower CL *
Cp 1,42
Lower CL 1,12Upper CL 1,71CPL 2,68
CPU 0,15Cpk 0,15Lower CL 0,06
Upper CL 0,24
Pp 1,32
Ov erall Capability
Potential (Within) Capability
PPM < LSL 0,00
PPM > USL 312500,00PPM Total 312500,00
Observ ed Perf ormancePPM < LSL 0,00
PPM > USL 323370,78PPM Total 323370,78
Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 0,00
PPM > USL 334500,45PPM Total 334500,45
Exp. Ov erall Perf ormance
WithinOverall
Process Capability of N podskupiny 3(using 95,0% confidence)
Děkuji za pozornost