Mikroskopie v materiálovém výzkumu
Mikuláš DítěGymnázium Christiana Dopplera, Praha 5, [email protected]
Tereza KonečnáGymnázium Brno, tř. Kap. Jaroše 14, [email protected]
Optické mikroskopy
• malé zvětšení, maximálně 1 000x• odrážení světla od povrchu vzorku• ty musí být lesklé, neprůsvitné
Elektronové mikroskopy
• transmisní (TEP)– zvětšení až 1 000 000x
• rastrovací (SEM)– zvětšení až 100 000x
• energiově disperzní analyzátor (EDS)– detekuje rentgenové záření
Experiment
• Je materiál kvalitní? nebo• Jaké prvky obsahuje?
• Příprava vzorku:– hrubé opracování (bruska, kladivo, ...)– brusný papír– diamantová pasta, ultrazvuk, ...
Zkoumaný vzorek
• musí mít jemný, leský povrch• ideálně vodič
• dendrity - výrazné hrany na přechodu slitin
Energetická analýza
• bílé části 1, 2 a 3:– nikl (35.49%)
• tmavé části 4, 5:– chrom (66.65%)
• části 6 a 7:– slitina, převažuje niob
Závěr
• testovaný vzorek je slitina chromu, niobu a niklu a dále obsahuje příměsi Mn, Si, Fe, W, Co, ...
Poděkování
• supervisor: Ing. Jan Adámek• Prof. Dr. RNDr. Miroslav Karlík
Zdroje• [1] Transmission electron microscope - Sample preparation. [online]. citováno 21. 6. 2011.
Dostupné z <http://en.wikipedia.org/wiki/Transmission_electron_microscope#Sample_preparation>[2] ŠAFÁŘOVÁ, Klára. Skenovací (rastrovací) elektronová mikroskopie. [online]. citováno 21. 6. 2011. Dostupné z <http://nanosystemy.upol.cz/upload/18/safarova_sem.pdf>[3] Nordson Corporation. Slovník pojmů v oblasti technologie pájení [online]. citováno 21. 6. 2011. Dostupné z <http://www.efd-inc.com/Intl/CZ/Pajky/slovnik-pojmu-oblasti-technologie-pajeni/Slovnik-pojmu.htm>