+ All Categories
Home > Documents > RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Date post: 24-Feb-2016
Category:
Upload: lilika
View: 34 times
Download: 0 times
Share this document with a friend
Description:
RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N. V áclav Holý Katedra fyziky kondenzovaných látek MFF UK, Ke Karlovu 5, hol [email protected]. GaN – jeden z nejdůležitějších polovodičových materiálů Modré, zelené a bílé světelné diody. Struktura GaN:. Wurtzitová mřížka. - PowerPoint PPT Presentation
13
RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH GaN Václav Holý Katedra fyziky kondenzovaných látek MFF UK, Ke Karlovu 5, [email protected] 1 Informace pro studenty
Transcript
Page 1: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 1

RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH GaN

Václav Holý

Katedra fyziky kondenzovaných látek MFF UK, Ke Karlovu 5,[email protected]

Page 2: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 2

GaN – jeden z nejdůležitějších polovodičových materiálů

Modré, zelené a bílé světelné diody

Page 3: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 3

Page 4: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 4

Page 5: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 5

Struktura GaN:

Wurtzitová mřížka

Page 6: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 6

Zakázaný pás šířky asi 3.1 eV

Depozice metodou CVD na různé substráty: Al2O3, SiC, Si(111)

Page 7: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 7

(0001) basal c-plane

Page 8: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 8

(1120) a-plane

Page 9: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 9

a-GaN:

Basal stacking faults:

fcc-like segment

basal stacking faults in (0001) planes, prismatic stacking faults in {1210} a-planes

See the review in M. A. Moram and M. E. Vickers, Rep. Prog. Phys. 72, 036502 (2009)

Page 10: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 10

R. Liu, A. Bell, and F. A. Poncea, C. Q. Chen, J. W. Yang, and M. A. Khan, Appl. Phys. Lett. 86, 021908 (2005).

cross-section TEM with basal SFs

HRTEM, basal SF, type I1

basal and prismatic SFs

Page 11: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 11

In most cases, the basal stacking faults in the (0001) plane are larger than the coherence width of primary radiation the stacking faults give rise to streaks in reciprocal space along [0001].

M

jjEM

I1

2)(1)( QQ

N

n

nj nE

jn

14

.i2/.i |)|(ee)()(

4 aQ pQaQ

Ideal hcp stacking:A B A B A B A B

n 0 1 0 1 0 1 0 1

Ideal fcc stacking:A B C A B C A B

n 0 1 2 0 1 2 0 1

I1 stacking fault:A B A B C B C B

n 0 1 0 1 2 1 2 1

The simulation of the intensity distribution along the streak is made by a Monte-Carlo method

We assumed geometric distribution of random distances between stacking faults

Page 12: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 12

Cíle bakalářské práce:

1. Simulace rtg difrakce na vrstvách a-GaN s vrstevnými chybami

2. Měření rtg difrakce na epitaxních vrstvách a-GaN (prof. Krost, Univ. Magdeburg, prof. Hommel, Univ. Bremen) v naší rtg laboratoři a na synchrotronech

Page 13: RTG DIFRAKCE NA SEMIPOLÁRNÍCH EPITAXNÍCH VRSTVÁCH G a N

Informace pro studenty 13

Co požadujeme:1. Dobré znalosti přednášky Fyzika IV2. Zručnost práce s počítačem3. Základní znalost programování (Matlab)4. Základní experimentální dovednosti, např. chytnout vzorek do pinzety tak,

aby nespadl na zem

Co nabízíme:1. Slušné zacházení a přátelské prostředí (zeptejte se sami Vašich kolegů)2. Zajímavou práci na zajímavém tématu na unikátních vzorcích3. Cestování na synchrotrony (Hamburg, Grenoble, aj.) pokud budete mít zájem

M. Barchuk, V. Holý, B. Miljevic, B. Krause, T. Baumbach, J. Hertkorn, and F. Scholz, Journal of Appl. Phys. 108, 043521 (2010).M. Barchuk, V. Holý, B. Miljević, B. Krause, and T. Baumbach, Appl. Phys. Lett. 98, 021912 (2011).M. Barchuk, V. Holý, D. Kriegner, J. Stangl, S. Schwaiger, and F. Scholz, Phys. Rev. B 84, 094113 (2011).


Recommended