Únavové poruchy letadel Únavové poruchy letadel fraktografickfraktografická analýzaá analýza
M. Zeman, T. Jindra, Z. Hájek, O. Marada, M. Nesměrák
Supervisor: Ing. Jan Siegl CSc.
Náplň práceNáplň práce
Fraktografické studium únavových poruch letadel Pozorování únavových poruch materiálů pomocí elektronového mikroskopu
Fraktografický výzkumFraktografický výzkum
Únavové zkoušky
Kvalitativní fraktografie
Kvantitativní fraktografie
Únavové poruchyÚnavové poruchy
Vznik
Dlouhodobé používání (namáhání) přístroje
korozní únava & korozní praskání
Výzkum – fraktografická analýza
Transmisní elektronový mikroskop (TEM)
Řádkovací elektronový mikroskop (SEM)
SEM na katedře materiálů v PrazeSEM na katedře materiálů v Praze
JSM – 840A JSM 5510 LV + IXRF
12 1
23
1 – tělo řádkovacího elektronového mikroskopu
2 – řídící terminál
3 – fotoaparát
Rekonstrukce růstu únavové trhlinyRekonstrukce růstu únavové trhliny
Identifikace jednotlivých postupových čar na povrchu lomu
Přiřazení postupových čar k jednotlivým složkám zatěžovacího spektra
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
46 48 50 52 54 56 58 60 62
Zatěžovací sekvence [1]
Délka trliny [mm]
Závislost délky trhliny na počtu Závislost délky trhliny na počtu zatěžovacích sekvencízatěžovacích sekvencí
NehodyNehody
NehodyNehody
Aloha Airlines
PoděkováníPoděkování
Chtěli bychom poděkovat především našemu supervisorovi Ing. Janu Sieglovi, CSc. za obětavou spolupráci a také ČVUT za poskytnutí příjemného prostředí pro práci a pomůcek k ní.