Mikroskopie v materiálovém výzkumu

Mikuláš DítěGymnázium Christiana Dopplera, Praha 5, mikulas.dite@gmail.com

Tereza KonečnáGymnázium Brno, tř. Kap. Jaroše 14, Terezka.Konecna@seznam.cz

Optické mikroskopy

• malé zvětšení, maximálně 1 000x• odrážení světla od povrchu vzorku• ty musí být lesklé, neprůsvitné

Elektronové mikroskopy

• transmisní (TEP)– zvětšení až 1 000 000x

• rastrovací (SEM)– zvětšení až 100 000x

• energiově disperzní analyzátor (EDS)– detekuje rentgenové záření

Experiment

• Je materiál kvalitní? nebo• Jaké prvky obsahuje?

• Příprava vzorku:– hrubé opracování (bruska, kladivo, ...)– brusný papír– diamantová pasta, ultrazvuk, ...

Zkoumaný vzorek

• musí mít jemný, leský povrch• ideálně vodič

• dendrity - výrazné hrany na přechodu slitin

Energetická analýza

• bílé části 1, 2 a 3:– nikl (35.49%)

• tmavé části 4, 5:– chrom (66.65%)

• části 6 a 7:– slitina, převažuje niob

Závěr

• testovaný vzorek je slitina chromu, niobu a niklu a dále obsahuje příměsi Mn, Si, Fe, W, Co, ...

Poděkování

• supervisor: Ing. Jan Adámek• Prof. Dr. RNDr. Miroslav Karlík

Zdroje• [1] Transmission electron microscope - Sample preparation. [online]. citováno 21. 6. 2011.

Dostupné z <http://en.wikipedia.org/wiki/Transmission_electron_microscope#Sample_preparation>[2] ŠAFÁŘOVÁ, Klára. Skenovací (rastrovací) elektronová mikroskopie. [online]. citováno 21. 6. 2011. Dostupné z <http://nanosystemy.upol.cz/upload/18/safarova_sem.pdf>[3] Nordson Corporation. Slovník pojmů v oblasti technologie pájení [online]. citováno 21. 6. 2011. Dostupné z <http://www.efd-inc.com/Intl/CZ/Pajky/slovnik-pojmu-oblasti-technologie-pajeni/Slovnik-pojmu.htm>